|
|
|
|
Предстоящие защиты<< назад
| Название диссертации | ИССЛЕДОВАНИЕ СОСТАВА
САМООРГАНИЗОВАННЫХ НАНОКЛАСТЕРОВ GexSi1-x/Si
МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ОЖЕ-МИКРОСКОПИИ |
| Автор | Николичев Дмитрий Евгеньевич |
| Шифр специальности | 01.04.10 | Название специальности | Физика полупроводников | | Шифр совета | Д 212.166.01 | | |
| Дата защиты | 08 апреля 2009 г. | | Место защиты | 603950, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, 23, корп. 3 в 16.00 |
| Руководитель | Павлов Дмитрий Алексеевич
доктор физико-математических наук, профессор
|
| Оппоненты | Тетельбаум Давид Исаакович доктор физико-математических наук, профессор
Бешенков Владимир Григорьевич кандидат физико-математических наук
|
| Загрузить автореферат |  |
|
|
|
|
